استفاده از فناوری نانو به منظور افزایش دقت ابزارهای اندازهگیری
محققین دانشگاه ملی روسیه، به منظور مطالعه خواص و ویژگیهای مربوط به مقاومت مغناطیسی مواد، اقدام به سنتز نانوسیمهای چندلایه ترکیبی نمودهاند. بهبود این خاصیت در مواد، این امکان را برای محققین فراهم نموده که دقت ابزارهای اندازهگیری مختلف را افزایش دهند. نتایج این تحقیق، در مقالهای با عنوان «ساختار نانوسیمهای مس/ نیکل بهدستآمده از سنتزهای ترکیبی» در مجله «Crystallography Reports» به چاپ رسیده است.
بنا به گزارش «phys»، یکی از ویژگیهای منحصربهفرد نانو ساختارهای مصنوعی، مقاومت مغناطیسی قابلتوجه در لایههای نازک فلزی است که میتواند در دستگاههای الکتریکی مختلف، مورد استفاده قرار گیرد. محققین برای مطالعه دقیقتر این ویژگی، نانوسیمهای مس و نیکل را به شکلهای هندسی و ترکیبهای مختلف امتحان نمودند و انتظار داشتند که این نانوسیمهای چندلایه، بتوانند اثر مغناطیسی یادشده را به طور چشمگیری افزایش دهند. تمامی نانوسیمهای ترکیبی تولید شده، دارای کریستالهایی با اندازههای مختلف ۵ تا ۱۰۰ نانومتری بوده که میتواند قابلیتی بالقوه در ایجاد آشکارسازهای ارزان و با دقت بالا، مرتبط با شاخصهای حرکت، سرعت، موقعیت و یا سایر پارامترها فراهم سازد.
گفتنی است، با توجه به کاربرد چنین ابزارهایی در صنعت خودرو و یا برای تولید و بهبود دستگاههای پزشکی، تجهیزات کنترل میزان تابش و قطبنماهای الکترونیکی، احتمال توسعههای آتی فناوری ابداعی و تجاریسازی آن وجود دارد.
مرجع: «phys»
هنوز نظری وارد نشده است!
نظر خود را ارسال نمایید
پست الکترونیکی شما انتشار پیدا نمی کند.